[实用新型]测试电路和设备有效

专利信息
申请号: 202121669145.2 申请日: 2021-07-21
公开(公告)号: CN215932065U 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 孙海洋;张健;耿霄雄;胡江;钟锋浩 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 贺才杰
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请实施例提供的测试电路和设备,其中,测试电路包括电压源和第一测试子电路,电压源的正极与第一待测IGBT器件的集电极电信号连接,电压源的负极接地;该第一待测IGBT器件连接于第一测试子电路内,第一待测IGBT器件的栅极与发射极短接;第一测试子电路包括第一电流源,第一电流源的负极与第一待测IGBT器件的发射极电信号连接,第一电流源的正极接地;如此,第一电流源指示的输出电流能够保证实际流过IGBT的电流在可接受的误差范围之内,从而解决了相关技术中实际流过IGBT的电流与测试电流不符导致的对IGBT进行BVCES参数测试精度低的问题。
搜索关键词: 测试 电路 设备
【主权项】:
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