[实用新型]一种用于半导体检测用的连接装置

摘要

本实用新型公开了一种用于半导体检测用的连接装置，包括滑柱和连接组件；滑柱：其外弧面上端上端滑动连接有滑套，滑柱的外弧面下端活动套接有弹簧，滑柱的下端设有连接套，弹簧的上端和滑套的下表面固定连接，弹簧的上端和连接套的上表面固定连接，连接套的外弧面下端开设有出线孔；连接组件：包括大转球、大连接柱和半球座，所述半球座设置于连接套的下端，半球座和连接套组成整体的内部转动连接有大转球，大转球的下端设有大连接柱，大连接柱位于半球座的下方，连接组件还包括小连接柱，小连接柱设置于大转球的上端，该用于半导体检测用的连接装置，连接时不受半导体表面的限制，连接效果好。