[实用新型]一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪有效

专利信息
申请号: 202121681802.5 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN215375686U 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 张徐俊 申请(专利权)人: 深圳市立诚威电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 梁炎芳
地址: 518000 广东省深圳市西乡*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,包括检测框,所述检测框内腔的底部固定连接有举升框,所述举升框内腔的底部固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有螺杆,所述螺杆的顶部通过轴承与举升框活动连接,所述螺杆的表面螺纹连接有螺块。本实用新型通过检测框、显示屏、检测壳体、密封板、连接块、摄像头、稳压模组、举升框、竖杆、金属板、铅板、锡箔纸、电机、螺块、移动板和螺杆,可使装置达到抗干扰效果好的功能,解决了现有市场上的集成电路测试仪不具备抗干扰效果好的功能,在检测过程中,设备受外界电磁干扰以及电路的不稳定,易出现检测不准确的现象,影响产品检测的问题。
搜索关键词: 一种 精密 电子 工程 抗干扰 效果 集成电路 测试仪
【主权项】:
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