[实用新型]一种半导体绝缘测试治具

摘要

本实用新型适用于半导体测试技术领域，提供了一种半导体绝缘测试治具，包括框体、探针、升降机构、夹持机构和调节机构，所述升降机构滑动安装于框体上，与所述夹持机构滑动连接，且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置；所述夹持机构与框体侧壁滑动连接，用于对不同类型的半导体元件进行固定，以便快速更换元件；所述调节机构安装于框体的内壁上，用以调节探针的位置，本测试治具在半导体绝缘测试的过程中定位简单，能够快速完成多种半导体元件的更换工作，从而提高测试效率，并通过推动元件的移动方式替代探针的升降，能够有效避免测试过程中对元件造成的损坏。