[实用新型]基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统有效

专利信息
申请号: 202121962971.6 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN215865742U 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 董俊;马冬;何俊明;马凡;徐盼盼;姜铭坤;黄小文 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院;安徽中科德技智能科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙) 34125 代理人: 李璐
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统,包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元;采集单元的输出端连接处理单元的输入端,处理单元的输出端连接存储单元,控制单元分别与成像单元、采集单元、处理单元相互连接;所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明,包括上表面成像单元、下表面成像单元,分别位于透明薄膜的上表面和下表面,以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射;所述采集单元包括载物台、两组线阵相机,两组线阵相机分别位于透明薄膜的上表面和下表面,分别接收经透明薄膜下、上表面透射出的光线进行成像。本实用新型实现了透明薄膜的上下表面及内部均匀性检测。
搜索关键词: 基于 双路全 投射 薄膜 均匀 检测 系统
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