[实用新型]一种集成电路制程布局可靠性的测试装置有效
申请号: | 202122035517.2 | 申请日: | 2021-08-27 |
公开(公告)号: | CN216117897U | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 周华;谢勰 | 申请(专利权)人: | 深圳市华思科泰电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人: | 尹均利 |
地址: | 518107 广东省深圳市光*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型属于集成电路检测技术领域,且公开了一种集成电路制程布局可靠性的测试装置,包括放置台,所述放置台的顶部开设有放置槽,所述放置槽的内壁设置有限位板,所述放置槽的顶部开设有底槽,所述放置台的内部开设有导电内腔,所述导电内腔的内部固定安装有一号导电柱和二号导电柱,所述一号导电柱和二号导电柱的外表面分别活动套接有一号滑块和二号滑块,所述一号滑块和二号滑块的底部均固定连接有导电轻质弹簧。本实用新型通过使得一号接线和二号接线在接入测试电路后接头可与集成电路板的针脚接触并形成通路,而一号滑块和二号滑块则能通过移动来适配不同类型针脚的集成电路板,具有适用性强的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 布局 可靠性 测试 装置 | ||
【主权项】:
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