[实用新型]一种高精度晶振自动测试机有效
| 申请号： | 202122217796.4 | 申请日： | 2021-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN215728432U | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 张江平 | 申请（专利权）人： | 南京从宇机电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02;G01R15/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人： | 万萍 |
| 地址： | 211100 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种高精度晶振自动测试机，涉及晶振自动测试技术领域，为解决现有晶振自动测试机在使用时，测试台和测试移动座发生倾斜无法第一时间了解，导致测试结果不精准的问题。所述驱动箱体的上端设置有测试框架，所述测试框架的内部设置有测试支架，所述测试支架的前端设置有电缸机构，所述电缸机构的一端外部设置有测试移动座，所述测试移动座的表面设置有测试头机构，所述驱动箱体的上端面设置有测试底座，所述测试底座的上端设置有测试台，所述测试台的两端均设置有感应板，所述感应板的上表面设置有移动传感器，所述测试台的前端设置有倾斜板，所述倾斜板的内部设置有倾角传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 自动 测试 | ||
【主权项】：
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