[实用新型]一种TO器件老化测试板有效
申请号: | 202122382121.5 | 申请日: | 2021-09-29 |
公开(公告)号: | CN216485129U | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 刘建良;邱名武;韦国辉 | 申请(专利权)人: | 厦门三优光电股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/28 |
代理公司: | 厦门市天富勤知识产权代理事务所(普通合伙) 35244 | 代理人: | 顾克帅 |
地址: | 361000 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型一种TO器件老化测试板,热沉通过若干个支点悬空地架设在承载板上,在热沉中部设有插槽,一感温热电偶插置在该插槽内;采用上述方案后,本实用新型热沉和芯片的温度基本上保持一致,感温热电偶插置在热沉内监测热沉的温度,这样可准确控制芯片的老化温度。 | ||
搜索关键词: | 一种 to 器件 老化 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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