[实用新型]一种多芯片测试装置有效
| 申请号： | 202122799873.1 | 申请日： | 2021-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN216449687U | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 杨振声 | 申请（专利权）人： | 华芯智造微电子（重庆）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 | 代理人： | 杨佳丽 |
| 地址： | 401420 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种多芯片测试装置，包括测试架，所述测试架的内部固定连接有测试箱，所述测试箱的上表面固定连接有等距离排列的测试座，所述测试架的内顶壁固定安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定安装有滑动接触板。该多芯片测试装置，通过电动推杆在滑槽和滑块的配合下推动滑动接触板，使滑动接触板底部的测试探针分别与测试座内的芯片进行接触，测试探针接触芯片之后，将测试信号发送集线器，利用集线器对各测试探针进行编号并发送到微处理器进行处理，微处理器对集线器发送的信号进行处理，如果芯片存在问题，微处理器会报警提示，并通过显示屏对芯片的位置进行标注，便于测试人员对不合格芯片进行筛选。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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