[实用新型]一种用于晶圆老化测试的烘烤装置有效

专利信息
申请号: 202122929745.4 申请日: 2021-11-26
公开(公告)号: CN216285594U 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 杨凯翔 申请(专利权)人: 广东万维半导体技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区布吉*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了种用于晶圆老化测试的烘烤装置,包括设备主体,所述设备主体内对称安装有两个烘烤支架,所述烘烤支架包含基板和放置板,所述放置板有若干个且均匀设置在基板的内端,其中一个所述基板的内端对称安装有两个一号连接板,两个所述一号连接板内均安装有一个限位柱,另一个所述基板的内端对称安装有两个二号连接板。本实用新型所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,属于烘烤装置领域,通过设置相互独立的两个烘烤支架,以及在烘烤支架上设置一号连接板、二号连接板,可以使得两个烘烤支架的间距能够根据需要进行调节,进而使得两个烘烤支架之间能够放置不同尺寸的晶圆,最终提升其实用性。
搜索关键词: 一种 用于 老化 测试 烘烤 装置
【主权项】:
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