[实用新型]一种光敏芯片制品测试工装有效

专利信息
申请号: 202123075894.5 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN216361840U 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 张阳 申请(专利权)人: 沈阳诺巴斯智能科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 大连中奥丰汇知识产权代理事务所(普通合伙) 21257 代理人: 朱国芳
地址: 110000 辽宁省沈阳市中国(辽宁)*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型提供一种光敏芯片制品测试工装,包括底座、插座、PCB、自动测试装置和手动测试装置;底座上设有放置槽;放置槽内设有透光片;底座内对应透光片的底部设有光源;插座的一端设有PIN针;PIN针位于放置槽的一端;PCB安装在底座上方;PCB上设有光源开关、四个手动检测开关、电源接线柱、皮安表接线柱和跳线;自动测试装置包括测试主机、自动测试插头和自动测试开关;测试主机分别与PCB、自动测试插头以及自动测试开关电连接;手动测试装置包括电源、皮安表和手动测试插头;手动测试插头与PCB电连接;手动测试插头与自动测试插头择一安装在PIN针上方;体现出本实用新型可灵活切换手动与自动对光敏芯片制品进行测试,方便使用。
搜索关键词: 一种 光敏 芯片 制品 测试 工装
【主权项】:
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