[实用新型]一种芯片测试系统有效
申请号: | 202123105512.9 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN216622597U | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 陈波 | 申请(专利权)人: | 湖南普奇水环境研究院有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G05B19/042 |
代理公司: | 长沙智勤知识产权代理事务所(普通合伙) 43254 | 代理人: | 李威 |
地址: | 410000 湖南省长沙市开福区青竹湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型适用于电子技术领域,提供了一种芯片测试系统,包括:发生模块,用于产生被测芯片不同频率的测试信号;选择模块,用于选择所需的所述测试信号的频率和幅值;执行模块,用于控制对比信号的放大倍数,然后将放大后所述对比信号的幅值与选择的所述测试信号的幅值进行对比并判断;控制模块,用于控制所述发生模块、所述选择模块以及所述执行模块;电源模块,用于为所述发生模块、所述选择模块、所述执行模块以及所述控制模块供电。本实用新型实现了一套对芯片进行测试的完整系统,且可以快速且准确的对被测芯片进行测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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