[实用新型]半导体刷检测试大盘有效
| 申请号： | 202123156839.9 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN216718590U | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 汪良恩;杨华;汪都;毕华林 | 申请（专利权）人： | 安徽安美半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542 | 代理人： | 叶静 |
| 地址： | 247100 安徽省池州市经*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种半导体刷检测试大盘，涉及半导体刷检技术领域。所述测试大盘包括：窄盘组件和宽盘组件；窄盘组件设置在测试大盘中段；宽盘组件设置在窄盘组件两端，不影响短二极管与窄盘组件限位配合；宽盘组件的径向尺寸大于窄盘组件，使得长二极管两端的引线与宽盘组件限位配合时，中段部位不会磕碰窄盘组件；因此测试大盘能够搭载多种长度的二极管进行测试，省去了更换测试大盘和调试过程，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 检测 大盘 | ||
【主权项】：
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