[实用新型]闪存颗粒的检测电路、电子设备和检测系统有效

专利信息
申请号: 202123391237.1 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN216849332U 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 孙成思;孙日欣;衡阳 申请(专利权)人: 深圳佰维存储科技股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 代理人: 隆毅
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种闪存颗粒的检测电路,包括:SSD控制器、PMIC模块、通信模块和多个闪存颗粒插座,其中,所述PMIC模块与所述SSD控制器的IIC接口电连接,所述SSD控制器包括多个I/O接口,所述PMIC模块包括多个电压输出端;所述SSD控制器的每个I/O接口与所述PMIC模块的每个电压输出端之间,串联有一个所述闪存颗粒插座;所述闪存颗粒插座用于插入闪存颗粒;所述SSD控制器与所述通信模块电连接,并通过所述通信模块与外部的控制终端进行通信。本实用新型闪存颗粒的检测电路通过提供可适用于多种型号的闪存颗粒的检测电路,降低对闪存颗粒进行检测的成本,并提高检测的效率。此外,本实用新型还公开一种电子设备和检测系统。
搜索关键词: 闪存 颗粒 检测 电路 电子设备 系统
【主权项】:
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