[实用新型]一种便于调节的集成电路测试装置有效
申请号: | 202123416609.1 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN217213017U | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 彭红方;黄树春 | 申请(专利权)人: | 深圳市方得智科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种便于调节的集成电路测试装置,涉及电路板测试技术领域。本实用新型包括底板、装设在底板上侧的托板、装设在底板与托板之间的调节机构;托板上侧滑动配合有两组夹持机构,夹持机构包括双轴伸电机、滑动配合两夹板、分别装设在双轴伸电机输出轴两端的两螺纹拉杆,且螺纹拉杆与夹板螺纹配合,一双轴伸电机固定在托板上侧且与另一双轴伸电机固定连接。本实用新型通过两双轴伸电机带动四个夹板从四个方向夹持集成电路板,进而便于快速稳定夹持电路板,且通过两双轴伸电机驱动两组夹持机构夹持,便于适用不同长宽比规格及不同厚度的电路板夹持。 | ||
搜索关键词: | 一种 便于 调节 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】:
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