[实用新型]芯片测试装置有效
| 申请号： | 202123455471.6 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN217360169U | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 李卫彤;陈荣;张欢欢;朱小龙 | 申请（专利权）人： | 和氏工业技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 | 代理人： | 林丽映 |
| 地址： | 519090 广东省珠海市金湾区红旗*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片测试装置，包括工作台、测试盒、探针阵列、顶板、顶升控制机构、移动控制机构和容纳槽，测试盒和探针阵列分别设置在工作台上，且探针阵列与测试盒电连接，顶板在Z轴方向上位于探针阵列的下方，顶升控制机构可控制顶板在Z轴方向上移动，移动控制机构可控制顶板在Y轴方向上移动，容纳槽设置在顶板上，且容纳槽内填充有酒精。本实用新型芯片测试装置能够自动化对探针阵列进行清洁和降温，从而提高测试工作效率，且自动化程度高，能够有效降低人工的工作强度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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