[发明专利]位置关系测定方法、接触检测方法和加工装置在审
| 申请号： | 202180003303.7 | 申请日： | 2021-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN113840688A | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 社本英二;早坂健宏 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人东海国立大学机构 |
| 主分类号： | B23Q15/22 | 分类号： | B23Q15/22;B23Q17/22;B23Q5/00;B23Q5/10;B23Q5/40;B23Q1/25 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;崔春植 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的控制装置使模拟工具相对基准块移动而使基准块和模拟工具接触(S20)，取得基准块和模拟工具接触时的基准点的第一坐标值(S22)。控制装置使主轴绕轴心旋转180度后(S24)，使模拟工具相对基准块移动而使基准块和模拟工具接触(S26)，取得基准块和模拟工具接触时的基准点的第二坐标值(S28)。控制装置根据第一坐标值和第二坐标值，来导出轴心和基准块的相对位置关系。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 关系 测定 方法 接触 检测 加工 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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