[发明专利]氮化物基半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202180003959.9 申请日: 2021-10-22
公开(公告)号: CN114127931A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 何清源;郝荣晖;陈扶;章晋汉;黄敬源 申请(专利权)人: 英诺赛科(苏州)科技有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/47;H01L21/8252
代理公司: 深圳宜保知识产权代理事务所(普通合伙) 44588 代理人: 王琴;曹玉存
地址: 215211 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种氮化物基半导体装置包含第一和第二氮化物基半导体层、源电极和漏电极,及栅极结构。所述栅极结构包含至少一个导电层和两个或更多个经掺杂氮化物基半导体层。所述至少一个导电层包含金属,并且与所述第二氮化物基半导体层接触以在其间形成金属‑半导体结。所述两个或更多个经掺杂氮化物基半导体层与所述第二氮化物基半导体层接触且邻接所述导电层,以便与所述第二氮化物基半导体形成邻接所述金属‑半导体结的接触界面。
搜索关键词: 氮化物 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
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