[发明专利]面内磁化膜、面内磁化膜多层结构、硬偏置层、磁阻效应元件和溅射靶在审

专利信息
申请号: 202180031695.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN115461882A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 栉引了辅;金光谭;镰田知成 申请(专利权)人: 田中贵金属工业株式会社
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;G11B5/31;G11B5/39;H01F10/16;H01F10/32;H01L29/82;C23C14/34
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 满凤;金龙河
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够在不进行加热成膜的情况下实现矫顽力Hc为2.00kOe以上且每单位面积的剩磁Mrt为2.00memu/cm2以上的磁性能的面内磁化膜。该面内磁化膜是作为磁阻效应元件(12)的硬偏置层(14)使用的面内磁化膜,其中,含有金属Co、金属Pt和氧化物,厚度为20nm以上且80nm以下,相对于该面内磁化膜的金属成分的合计,含有45原子%以上且80原子%以下的金属Co,含有20原子%以上且55原子%以下的金属Pt,相对于该面内磁化膜的整体,含有3体积%以上且25体积%以下的上述氧化物,该面内磁化膜的磁性晶粒的面内方向的平均粒径为15nm以上且30nm以下。
搜索关键词: 磁化 多层 结构 偏置 磁阻 效应 元件 溅射
【主权项】:
暂无信息
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