[发明专利]不良原因推定装置和方法在审
| 申请号： | 202180032436.7 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN115552066A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 米川辉;大河内俊夫;国眼阳子;饭泽宪次;吉田厚;蛭田友美 | 申请（专利权）人： | 日立环球生活方案株式会社 |
| 主分类号： | D06F33/74 | 分类号： | D06F33/74;D06F33/47;D06F34/05 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;文志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在推定对象装置的不良原因的不良原因推定装置以及该不良原因推定装置执行的不良原因推定方法中，对象装置具有分别检测对象装置的状态的多个传感器，存储保持预先学习的1个或多个模型，使用从传感器输出的传感器数据中的导致对象装置的状态变化的特定的数据范围的传感器数据，基于模型来推定对象装置的不良原因。 | ||
| 搜索关键词： | 不良 原因 推定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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