[发明专利]三维测量装置在审
| 申请号： | 202180054641.3 | 申请日： | 2021-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN116134289A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 藁科文和 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;文志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 三维测量装置具备：投光部，其一边扫描参照光一边向对象物投射参照光；受光部，其接收由对象物反射的参照光；时刻范围设定部，其对受光部中的每个预定分区设定与测距范围对应的参照光的扫描时刻范围；以及三维信息计算部，其通过基于所设定的扫描时刻范围的受光部的信息的三角测量，来计算对象物(W)的三维信息。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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