[发明专利]解译来自阵列元表面的光信号在审
| 申请号： | 202180061388.4 | 申请日： | 2021-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN116420099A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | E·勒特舍尔;G·迪特曼 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G02B1/00 | 分类号： | G02B1/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 邹丹 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种系统和方法解译用一组光学设备(1,1a,1b,1c)进行的光学表征检查。每个设备包括光学元表面结构(12)的一个或多个阵列(21‑26)并且具有定制成具有使它们彼此不同的不同特性的阵列(21‑26)。分别访问捕获每个设备(1)的物理指纹的第一数据和第二数据以及用每个设备(1)执行的光学表征检查的结果。所执行的检查的结果受阵列(21‑26)的相应不同特性的影响。基于所访问的第一数据标识每个设备(1)，这使得可以获得与所标识的设备相关联的读出键。该读出键解释不同特性中的相应特性。最后，根据所获得的读出键来解译第二数据以阐明光学表征检查的结果。本发明还涉及相关的计算机程序产品。 | ||
| 搜索关键词： | 解译 来自 阵列 表面 信号 | ||
【主权项】：
暂无信息
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