[发明专利]分析系统和方法在审
| 申请号： | 202180069425.6 | 申请日： | 2021-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN116420065A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 帕斯卡·拉德内兹;埃梅特·麦戈兰 | 申请（专利权）人： | QBD（QS-IP）有限公司;瑞士商数有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 于会玲;宋志强 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种对在包括多个测定位点的阵列或微阵列的相应测定位点处执行的测定进行分析的计算机实现的方法，该方法包括：接收阵列或微阵列的测定位点的至少一个图像；针对测定位点中的每个测定位点，对至少一个图像进行处理以确定代表该测定位点处的反应的程度的至少一个度量；针对测定位点中的每个测定位点，确定用于该测定位点的一个或多个参数，其中，用于阵列或微阵列的测定位点中的至少一个测定位点的一个或多个参数不同于用于阵列或微阵列的测定位点中的至少一个其他测定位点的一个或多个参数；以及针对测定位点中的每个测定位点，根据用于该测定位点的至少一个度量和用于该测定位点的一个或多个参数来确定该测定位点处的反应的大小。还公开了一种被相应配置的计算机化的分析系统。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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