[发明专利]用于优化至少一个质谱装置的参数设置的方法在审

专利信息
申请号: 202180083294.7 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN116601739A 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: B·蒂曼;D·因特尔曼 申请(专利权)人: 豪夫迈·罗氏有限公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 钟茂建;陈晓
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于优化至少一个参数设置的方法,所述至少一个参数设置为以单位分辨率操作的至少一个质谱装置(110)的至少一个参数设置。所述方法包括以下步骤:a)确定用于用所述质谱装置(110)检测目标分析物的至少一个分析物检测窗口,其中所述分析物检测窗口由所述分析物的中心质荷比值以及预定义宽度定义,其中所述分析物的所述中心质荷比值被设置为具有多于一个小数位的所述目标分析物的理论质荷比值和/或通过高分辨率质谱测量确定的具有多于一个小数位的所述目标分析物的质荷比值;b)确定用于用所述质谱装置(110)检测内标物质的至少一个内标检测窗口,其中所述内标检测窗口由所述内标物质的中心质荷比值以及所述预定义宽度定义,其中所述内标物质的所述中心质荷比值被设置为相对于所述目标分析物计算且具有多于一个小数位的所述内标物质的质荷比值和/或通过高分辨率质谱测量确定的具有多于一个小数位的所述内标物质的质荷比值。
搜索关键词: 用于 优化 至少 一个 装置 参数设置 方法
【主权项】:
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