[发明专利]一种表面缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202210004445.1 | 申请日： | 2022-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN114324168A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 欧高亮;潘威;汤泉;曹玲;卢盛林 | 申请（专利权）人： | 广东奥普特科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杜嘉伟 |
| 地址： | 523000 广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及表面缺陷检测技术领域，具体公开一种表面缺陷检测方法及系统，所述方法包括：选取图像中任一检测点作为待评估检测点；根据待评估检测点的位置确定与该待评估检测点相关的待测区域；获取所述待测区域内包括所述待评估检测点的所有检测点的实测高度，并计算得到所述待测区域内各所述检测点的平均高度；获取各所述平均高度的实测极差；根据所述实测极差和预设的阈值极差，对所述待评估检测点进行表面缺陷评价。本发明提供一种表面缺陷检测方法及系统，使用实测极差作为判据，有效降低数据运算量，提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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