[发明专利]芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品在审
| 申请号： | 202210021364.2 | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN114371387A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 徐帆 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 闫洁;臧建明 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品，涉及半导体技术领域，用于解决芯片测试效率较低的技术问题，芯片具有多个输入信号，该信号测试方法包括：获取设备芯片的所有输入信号；获得每个设备输入信号的时间参数；将所有设备输入信号的时间参数生成结果表格。通过对芯片的所有输入信号进行获取，并获得各输入信号的时间参数，得到所有输入信号的时间参数的结果表格，实现芯片的输入信号的批量测试，提高电路设计者的设计效率，便于设计测试电路，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 信号 测试 方法 系统 设备 存储 介质 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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