[发明专利]坏块表继承方法及其存储装置有效

专利信息
申请号: 202210034811.8 申请日: 2022-01-13
公开(公告)号: CN114385084B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 付应辉;张云路;李皓 申请(专利权)人: 合肥沛睿微电子股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 李有财
地址: 230012 安徽省合肥市新站区文*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请公开了一种坏块表继承方法及其存储装置。坏块表继承方法应用于存储装置的主控芯片且包括以下步骤:对存储装置的存储模块进行扫描检测,以生成原始坏块表,并存储在存储模块的第一存储位置,其中,原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息;以及对存储模块进行低级格式化操作时,读取原始坏块表,并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序,以生成系统坏块表,并存储在存储模块的第二存储位置,其中,系统坏块表记录多平面模式对应的坏块信息。因此,可保证存储装置损坏不认盘或更新固件时仍可获取原始坏块表,且存储装置更换操作的平面模式时,也可完整继承原始坏块表。
搜索关键词: 坏块表 继承 方法 及其 存储 装置
【主权项】:
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