[发明专利]提高晶体质量的发光二极管外延片制备方法在审

专利信息
申请号: 202210050040.1 申请日: 2022-01-17
公开(公告)号: CN114583019A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 尹涌;易丁丁;张琰琰;陆香花 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/44
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本公开提供了一种提高晶体质量的发光二极管外延片制备方法,属于发光二极管技术领域。在衬底上生长基础AlN层之后,在基础AlN层的表面沉积石墨烯层之后对基础AlN层进行退火处理,提高得到的基础AlN层的晶体质量。基础AlN层上还沉积有石墨烯层,较为致密且与基础AlN层化学性质差别较大的石墨烯层覆盖基础AlN层的表面,可以抑制基础AlN层的表面在退火过程会出现的氮原子解吸附过程,提高基础AlN层退火之后的内部晶体质量以及表面平整度,也减少杂质吸附。得到质量较好的基础AlN层并在质量较好的基础AlN层上依次生长n型层、发光层与p型层,有效提高最终得到的发光二极管外延片的质量。
搜索关键词: 提高 晶体 质量 发光二极管 外延 制备 方法
【主权项】:
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