[发明专利]太阳辐射照度测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202210055098.5 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114485924A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 尹凯丽;张晓静;谢静超;郝梓仰;景鹏飞;刘加平 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02
代理公司: 北京华专卓海知识产权代理事务所(普通合伙) 11664 代理人: 张继鑫
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法,包括:机架;垂直太阳总辐射照度传感器组,其包括多个传感器,各所述传感器固定于机架,指向水平方向上的多个方向,用于检测垂直面上的太阳总辐射照度;水平太阳总辐射照度传感器组,其包括固定于所述机架的,指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器,分别用于测量天空总辐射照度,和地面反射的太阳辐射照度。本发明实现了同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位连续监测。
搜索关键词: 太阳辐射 照度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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