[发明专利]一种自动化存储芯片测试装置在审
| 申请号： | 202210057936.2 | 申请日： | 2022-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN114490230A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 杨密凯 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/273 | 分类号： | G06F11/273;G11C29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，所述滑动部活动设置在所述固定部之上，所述滑动部可以相对于所述固定部保持水平状态向后上方或前下方滑动，所述固定部包含芯片测试座，所述芯片测试座设置在所述固定部的正面，所述滑动部包含芯片压紧件，所述芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上，本发明在驱动气缸的驱动下可以实现自动开合以及自动化装载或卸载存储芯片,存储芯片装载到位后,本发明再在驱动气缸的驱动下闭合,从而实现存储芯片自动化装载与测试，本发明是实现存储芯片自动化测试的关键技术。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 存储 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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