[发明专利]一种VCSEL器件的纳秒级LIV测试系统及方法有效
| 申请号： | 202210058341.9 | 申请日： | 2022-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN114089319B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 蒋威;葛斌;田铮;刘文 | 申请（专利权）人： | 柯泰光芯（常州）测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01J1/44 |
| 代理公司： | 常州易瑞智新专利代理事务所(普通合伙) 32338 | 代理人： | 黄国军 |
| 地址： | 213164 江苏省常州市武进区常武中路1*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了VCSEL器件的纳秒级LIV测试系统及方法，方法包括：驱动信号源所发出的脉冲信号，以及可调稳压电源所输出的指定的步进电压，将所述脉冲信号与比较器中的基准信号进行比较，从而输出上升沿和下降沿更快的脉冲信号；基于上升沿和下降沿更快的脉冲信号，进入GaN驱动器进一步提升脉冲信号的输出强度，输出到GaN功率管，确保GaN功率管快速开启和关闭；基于上述电路驱动后所输出的光脉冲，获取光纤收集到的光脉宽波形，判断所得到的光脉宽与输入脉宽宽度是否相同；本发明克服了现有的基于源表的测试技术，只能实现微秒级测试，无法满足VCSEL当前在纳秒级使用下的测试难题，为VCSEL研发阶段和量产阶段的试验和测试提供了准确的技术参考。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 vcsel 器件 纳秒级 liv 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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