[发明专利]一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法有效
| 申请号： | 202210092133.0 | 申请日： | 2022-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN114487014B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 郑虎;李吉;涂一航;龙嘉威;蔡林宏;李恩 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G01N29/04 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法，属于红外无损检测技术领域。该方法考虑了热扩散对图像分割造成的影响，基于双阈值将待检测的红外图像分割成黑、灰、白三种情况，分别对应无缺陷、热扩散影响和有缺陷三部分，然后再利用形态学边缘检测获取缺陷几何特征，实现在考虑热扩散影响下的缺陷几何特征的准确提取，具有准确率高的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 无损 检测 缺陷 几何 特征 提取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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