[发明专利]一种半导体测试电路及方法在审
| 申请号： | 202210093823.8 | 申请日： | 2022-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN116540044A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 王裕如;余佳俊;高云斌;唐龙谷;高博 | 申请（专利权）人： | 华为数字能源技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 邹雅莹 |
| 地址： | 518043 广东省深圳市福田区香蜜湖街道香*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种半导体测试电路及方法，半导体测试电路包括第一测试端、第二测试端、第三测试端以及测试电路，第一测试端与待测试半导体器件的漏极连接，第二测试端与待测试半导体器件的栅极连接，第三测试端与待测试半导体器件的源极连接；测试电路与第二测试端连接，第三测试端接地；第一测试端向待测试半导体器件输入母线电压；测试电路用于在第一时间段内持续输出待测试半导体器件的栅极正向开启电压值的电压，在第二时间段内持续输出待测试半导体器件的栅极反向关断电压值的电压，在第三时间段内持续输出待测试半导体器件的栅极阈值电压检测值的电压。利用本申请提供的电路结构能够对半导体器件的阈值电压的动态特性进行更加精准的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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