[发明专利]一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210103481.3 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN115115573A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 岳来鹏;魏伟;刘鑫 申请(专利权)人: 上海岳展精密科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/08
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 代理人: 刘颖
地址: 201600 上海市松江*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法及系统,包括以下步骤:获取待检测产品表面的原始图片,并将所述原始图像输入transformer模型;通过所述transformer模型生成含有各个区域像素值的掩码图;根据所述各个区域的像素值确定各个区域的缺陷概率;将所述缺陷概率高的区域与所述原始图片进行对应;根据对应结果确定所述原始图片内的缺陷;本发明的有益效果为:通过将获取的产品表面的原始图像输入transformer模型,然后经过transformer模型对原始图片机械能处理,根据处理结果生成含有各个区域像素值的掩码图,根据各个区域的像素值得出各个区域的缺陷概率,再将所述缺陷概率高的区域与所述原始图片进行对应,然后根据对应结果确定所述原始图片内的缺陷。
搜索关键词: 一种 基于 transformer 模型 铆钉 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
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