[发明专利]一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202210125483.2 | 申请日： | 2022-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN114487509A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 马子仪;赵发展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28;G06T7/70;G06T7/50 |
| 代理公司： | 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 | 代理人： | 王胜利 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备，涉及芯片技术领域。方法包括：遍历所有输入接口，多次分别确定每个输入接口为处于正常工作状态下的目标待测输入接口时对应的待测芯片固件的磁场图像数据；基于多个磁场图像数据，确定待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据；基于待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据，确定待测芯片固件的配置信息流的流动方向；基于金刚石氮空位色心传感器对待测芯片进行扫描，基于分析配置信息流的流动方向完成对待测芯片固件的定位分析，可以在不损坏待测芯片的情况下实现对待测芯片内寄存器的定位，提高了固件定位分析的准确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 定位 分析 方法 系统 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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