[发明专利]一种可拓展的ATE测试流调度架构及其测试方法

摘要

一种可拓展的ATE测试流调度架构及其测试方法，该方法包括在启动测试前，定义M个测试单元(L1、L2、…LM)的参数指标信息；定义的所述测试流(WJ1、WJ2…WJN)或者所述测试项(TEST1、TEST2、…TESTM)之间的先后关系、依赖关系和逻辑关系，并形成调度策略；解析器根据调度策略将所述N个测试流描述文件(WJ1、WJ2…WJN)映射为一个双向有向图；在启动测试后，所述双向有向图动态加载到测试服务程序去执行所述测试项(TEST1、TEST2、…TESTM)，并返回测试结果。因此，本发明可以大大地降低半导体测试人员的测试学习成本，进而节省了半导体测试企业的测试成本。