[发明专利]一种测试针及其加工方法在审
| 申请号： | 202210140065.0 | 申请日： | 2022-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN114509586A | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 顾培东;张彤 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 贾爱存 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子检测技术领域，尤其涉及一种测试针及其加工方法。该测试针包括连接件和两个测试件。两个测试件相背设置，测试件具有测试部，连接件设置在两个测试件之间，连接件能够连接两个测试件，测试部与芯片抵接时，两个测试件和连接件能够形成通路，从而使测试针能够测试芯片。该测试针结构简单，仅具有三个零件，且其中两个测试件为相同结构，便于组装和维护，且大幅减低加工成本。该加工方法通过冲压成型测试件的胚模，形成测试部和固定部，通过模具成型方式加工测试件，有利于降低测试件的加工成本，提高加工效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 及其 加工 方法 | ||
【主权项】：
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