[发明专利]超材料低频插损测试方法及装置在审
| 申请号： | 202210175216.6 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN114636861A | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 陈立杰;邓峰;肖龙;李善波;熊波 | 申请（专利权）人： | 中国舰船研究设计中心 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R29/10;G01R23/16 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 胡建平;黄帅 |
| 地址： | 430064 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超材料低频插损测试方法及装置，该方法包括以下步骤：利用天线发出低频电磁信号，测量目标点处天线发出的远场场强分布；将超材料置于天线与目标点之间，再次测量目标点处天线发出的远场场强分布；将同一天线频率，同一目标点处，有无超材料两种情况下的场强数据做差，得到相对场强变化，即为插损。本发明通过测量电磁波分别在有无超材料阻挡的情况下，一定距离后的远场分布，进而测量超材料的插入损耗，实现了低成本的超材料低频插入损耗的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 低频 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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