[发明专利]一种面板缺陷区域提取方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210175994.5 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN114519743A | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数联云算科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/73 | 分类号： | G06T7/73;G06T7/13;G06T5/50;G06T7/00;G06T7/62;G06T5/30;G06T5/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 王志 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种面板缺陷区域提取方法、装置、设备及存储介质，通过获取包含缺陷的待测面板图像；提取所述待测面板图像的检测区；对所述检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征；将所述待测面板图像的轮廓特征与标准模板进行差集运算，获得缺陷轮廓；其中，所述标准模板基于若干无缺陷面板图像的检测区轮廓特征融合获得；对所述缺陷轮廓进行处理，获得所述缺陷轮廓的掩膜图。即通过若干无缺陷面板图像融合生成标准模板的方法，提高了对照模板的准确性，进而提高了对缺陷区域的标注及提取的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 区域 提取 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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