[发明专利]芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备在审
| 申请号： | 202210177924.3 | 申请日： | 2022-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN114594366A | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | 蒙文钱 | 申请（专利权）人： | 深圳市凯威达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市海顺达知识产权代理有限公司 44831 | 代理人： | 欧阳士 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备，涉及电力载波芯片加工技术领域，包括检测盒体、运载组件和检测组件，所述检测盒体的上下两侧开设有转位槽，且转位槽的内侧中端连接有电控转轴，所述运载组件安置于电控转轴的外端。本发明第一摄像头可对芯片的上表面进行外观检测，第二摄像头可对对芯片的下表面以及引脚进行检测，从而能实现设备在检测流程内对芯片的整体外观进行检测，此外摄像头本身为设备内的纠偏装置，这能免去额外提供部件造成设备制造成本的提升，此外通过在检测流程对芯片的外观进行检测，这能免去额外的外观检测流程，这能简化芯片的生产流程，并提升芯片的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 复位 进行 多次 检测 电力 载波 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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