[发明专利]光罩及其设计方法在审
申请号: | 202210185191.8 | 申请日: | 2022-02-28 |
公开(公告)号: | CN114924462A | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 高松;胡丹丹;张聪;郭晓波;张瑜 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G03F1/70 | 分类号: | G03F1/70;G03F1/80 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 刘昌荣 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种光罩的设计方法,提供具有第一透明基底的第一光罩,第一透明基底的表面上形成有不透光的图形结构;提供第一衬底,衬底上形成有第一、二结构区,第二结构区的图形密度小于第一结构区,之后形成覆盖第一、二结构区的光刻胶层,检测得到光刻胶层的高度差;提供第二光罩,第一光罩具有第二透明基底,刻蚀第二透明基底,之后在第二光罩的表面形成不透光的图形结构,使得曝光机台采用第二光罩对光刻胶层曝光时,分别对应第一、二结构区上焦点高度的差值为高度差。本发明实现不同位置都在最佳曝光位置,保证了图形的最佳曝光焦距,解决因前层图形疏密导致的当层光刻填充材料平坦度较差而引起的图形离焦问题,提高产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 及其 设计 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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