[发明专利]一种X射线无损检测设备及检测方法在审
| 申请号： | 202210194512.0 | 申请日： | 2022-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN114563427A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 陶桔;刘永杰;黄涛 | 申请（专利权）人： | 无锡日联科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 薛学娜 |
| 地址： | 214145 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测技术领域，具体公开了一种X射线无损检测设备及检测方法，该X射线无损检测设备的铅房内形成检测空间，输送机构设置在铅房内，输送机构将放置有待检测工件的载物台从铅房一侧的第一送料口处移动至检测工位，光管组件的射线源能够向待检测工件发送X射线，探测器安装在移动机构上，移动机构固定在铅房顶部的内侧。本发明通过移动机构带动探测器到达检测空间内的任意位置，保证探测器始终对焦于光管组件的射线源的焦点。本发明还提供一种X射线无损检测设备的检测方法，应用上述的X射线无损检测设备对待检测工件进行无损检测，功能全面，操作简单，实现了多方位、全角度的检测，检测效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 无损 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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