[发明专利]一种测试HJT电池片是否失效的方法在审
申请号: | 202210268519.2 | 申请日: | 2022-03-18 |
公开(公告)号: | CN114678287A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 陈鹏;蔡瑜;王鹏;陈良水 | 申请(专利权)人: | 环晟光伏(江苏)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H02S50/10 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 214200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种测试HJT电池片是否失效的方法,包括:使用低温焊带对HJT电池片的正表面以及背表面进行焊接;在所述HJT电池片的正表面以及背表面的所述低温焊带上焊接汇流条,引出正负极;使用前后胶膜覆盖所述HJT电池片的正表面以及背表面;再使用包覆件对所述HJT电池片进行包裹,随后进行层压,得到测试样品;将所述测试样品浸泡在水煮箱中的测试水中,浸泡一段时间,取出,通过EL检测仪对所述测试样品进行检测。本发明的有益效果是相比现有技术,速度大大提升,具备非常高的时效性,检测结果无误的情况下,就可以进行下一工序的操作,加快了整体的生产节奏,节省了生产相应的时间成本,提高生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 hjt 电池 是否 失效 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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