[发明专利]一种冷却测试装配单元及老化冷却设备有效
| 申请号： | 202210284811.3 | 申请日： | 2022-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN114384404B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 张华;薛银飞;宁振坤 | 申请（专利权）人： | 上海菲莱测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京源点知识产权代理有限公司 32545 | 代理人： | 潘云峰 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种冷却测试装配单元和老化冷却设备，涉及芯片测试技术领域，其中测试装配单元包括：箱体、盖板、冷却组件、防护板和电接组件，箱体为一侧开口的密封腔体，盖板铰接于箱体的开口侧以实现开口的启闭，冷却组件安装于密封腔体的内侧；防护板装配于冷却组件上方，且防护板的底面与冷却组件顶面之间留有装配待检测件的空隙；电接组件安装于冷却组件的侧面并与待检测件连接导通。其中老化冷却设备包括该冷却测试装配单元。本发明解决了现有技术中老化设备无法满足大功率的光芯片老化测试要求的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 冷却 测试 装配 单元 老化 设备 | ||
【主权项】：
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