[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202210285654.8 申请日: 2022-03-22
公开(公告)号: CN114975780A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 萧琮介;沈香谷;萧远洋;赖英耀;陈殿豪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L49/02 分类号: H01L49/02;H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置,包括金属绝缘体金属(MIM)电容器。MIM电容器包括:多个电极,多个电极包括一或多个第一电极以及一或多个第二电极;以及一或多个绝缘层,设置于相邻的多个电极之间。MIM电容器设置于层间介电(ILD)层中,且ILD层设置于基板上方。一或多个第一电极连接至第一通孔电极的侧壁,其中第一通孔电极设置于ILD层中,而一或多个第二电极连接至第二通孔电极的侧壁,其中第二通孔电极设置于ILD层中。在一或多个上述或下列实施例中,一或多个绝缘层包括高k值介电材料。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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