[发明专利]一种反射形貌检测投影屏变形方法、系统、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202210294233.1 申请日: 2022-03-24
公开(公告)号: CN114562960A 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 黄家乐;刘挺;李军利;卢迪文;邹须竹 申请(专利权)人: 湖南长步道光学科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/70;G06T7/80
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 王浩
地址: 410116 湖南省长*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种反射形貌检测投影屏变形方法、系统、设备及介质,步骤包括:通过相位恢复术从图案中得到待测物体表面的相位信息,根据待测物体表面的相位信息计算得到待测物体表面的像素坐标,根据待测物体表面的像素坐标,利用最小二乘方法计算得到待测物体表面的拟合平面,减小了由于重力带来的形变导致投影图案的偏差,实现相机的标定结果更准确,待测物体的点云面形结果更准确。
搜索关键词: 一种 反射 形貌 检测 投影 变形 方法 系统 设备 介质
【主权项】:
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