[发明专利]一种增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法有效
申请号: | 202210304039.7 | 申请日: | 2022-03-25 |
公开(公告)号: | CN114823970B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 王海澎;木迎春;李东升;龚晓丹;孔金丞;黄佑文;彭秋思;雷晓虹;周旭昌;邓功荣 | 申请(专利权)人: | 昆明物理研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/3065;H01L31/0352 |
代理公司: | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人: | 赛晓刚 |
地址: | 650221 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: |
本发明公开了一种增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法。本发明是在超晶格红外焦平面芯片上通过等离子体处理芯片表面,从而增加光刻胶在芯片表面的粘附性,尤其针对较小光刻图形制备时。在超晶格红外焦平面芯片光刻前,首先采用氧等离子体与芯片上残余的有机污染物发生化学反应,生成气态的CO、C0 |
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搜索关键词: | 一种 增加 光刻 晶格 红外 平面 芯片 附着 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的