[发明专利]气固两相流流动参数测量方法、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210311808.6 | 申请日: | 2022-03-28 |
公开(公告)号: | CN114674883A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 李健;施金鹏;许传龙;张彪 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22;G01N22/04;G01N15/06 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王斌 |
地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种气固两相流流动参数测量方法、电子设备及存储介质,其中气固两相流流动参数测量方法包括:获取待测区域电容向量,重建出待测区域的实介电常数分布;基于重建出的实介电常数分布,在假设颗粒水分的情况下,得到颗粒浓度分布与颗粒水分;基于颗粒浓度分布与颗粒水分,得到微波频段测量区域的复介电常数分布情况;计算复介电常数分布情况下微波的衰减情况;设定对比值,根据计算得到的复介电常数分布情况下微波的衰减与实际测量得到的微波衰减的对比,修正假设的颗粒水分满足对比值;将满足对比值的颗粒水分作为最终的颗粒水分。本发明提出的电容层析成像与微波法融合的测量方法,提升了测量精度与测量范围。 | ||
搜索关键词: | 两相 流流 参数 测量方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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