[发明专利]基于大数据的第三代半导体测试数据分析系统

摘要

本发明公开了基于大数据的第三代半导体测试数据分析系统，涉及测试数据分析技术领域，解决了现有技术中第三代半导体对应测试数据的关联性无法判定的技术问题，判断需分析类型测试数据的测试质量是否合格，防止测试质量异常导致对应需分析集合的数值存在偏差，导致关联性分析的误差风险增加，同时影响第三代半导体测试的准确性，导致第三代半导体的生产效率降低；通过关联性分析单元将第三代半导体的需分析类型测试数据进行关联性分析，判断需分析类型对应测试数据是否存在关联，以便于第三代半导体在制造以及维护过程中，能够提前进行数据控制，防止数据控制不及时导致第三代半导体的质量受到影响，降低了本身性能。