[发明专利]用于缺陷检测的方法、装置、检测设备和存储介质在审
| 申请号： | 202210383057.9 | 申请日： | 2022-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN114693663A | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 陈瑞侠;冒树林;李震;张智铭;尹俊伟;陈红兰;刘畅;王瑞峰;邱琼文 | 申请（专利权）人： | 北京明略软件系统有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/10 |
| 代理公司： | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人： | 杨国勇 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及深度学习技术领域，公开一种用于缺陷检测的方法，包括：获得被检测部件的深度图像；对深度图像进行预处理，获得待去噪数据；对待去噪数据进行频域转换，获得频域数据；根据条纹噪声的频域特征和缺陷的频域特征，对频域数据进行滤波处理，滤除频域数据中的条纹噪声并保留缺陷，得到去噪后的频域数据信息。通过本申请的方案，相较于现有技术中通过引导滤波处理来去除噪声的方案而言，没有对图像进行像素值的加减处理，这样就不会在去除条纹噪声的同时还将图像中原有的微小缺陷滤除，既有效的滤除了条纹噪声，还保留了图像的细节特征，从而提高缺陷检测的精度。本申请还公开一种用于缺陷检测的装置、检测设备和存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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